Není. Ani náhodou. Chybí tam docela podstatný informace
- ATXMEGA, D-čková řada, neuvedena tolerance interní bandgap reference. Naplánuj výrobu několika tisíc kusů týdně, když nevíš, s jakýma tolerancema počítat na produkčním testeru. A i u dalších parametrů platí, že uvedení nominální hodnoty nestačí.
- Zařízení se zálohováním baterkou CR2032, v době zálohy se probudí jednou za 2s, změčí hodnotu, uloží do RAM. V datasheetu 2,8uA, realita 67uA, měřeno na pěti kusech. Proud nakonec závisel na nastavení fuses, ale v dokumentaci (ani v datasheetu, ai v erratě) ani slovo. Týden práce na projektu kvůli jejich lemplovině.
- AT91SAM9260, pin JTAGSEL. Ten přepíná mezi laděním jádra a boundary scanem. Podle datasheetu s interním pull-downem, přepíná se tvrdým připojením na VddIO (+3,3V). V reálu byla vnitřní clampovací dioda na VddCore... Následek? Po přepnutí se odpařila část čipu...
- Opět ATXMEGA, první řady. Zrušili EEPROM, zavedli NVM Controller, který má v sobě FLASH, FLASH využitelnou jako EEPROM, bootloader FLASH, Lock-bity, fuses, signaturu,... Deklarovali to tak, že z pohledu SW není změna proti EEPROM. Faktycky, mazání po blocích a pokud byl jakýkoliv přístup k NVM během zápisu (včetně čtení instrukcí), zápis zfailoval. Teď už to aspoň zadokumentovali.
Mám pokračovat?